Prüfadapter mit HF-Abschirmkammer

Hochfrequenz-Baugruppen müssen während der elektronischen Prüfung gegen Störungen aus der Umgebung (z.B. Mobilfunksignale) abgeschirmt werden, um Messungen und Kalibrierungen nicht zu beeinflussen. Auch das Aussenden von HF-Signalen stört ggf. andere Prüfplätze in der Nähe. Um dies zu Minimieren, haben wir eine Abschirmkammer entwickelt, in der die zu prüfenden Baugruppen mit Prüfnadeln kontaktiert werden.

Die Abschirmkammer besteht aus zwei Halbschalen (Ober- und Unterteil) mit jeweils einer umlaufenden Pfalz. Die obere Pfalz ist mit einer EMV-Dichtung beklebt, die während der Prüfung durch den Linearspanner auf 50% zusammengedrückt wird. Zum bequemen Einlegen bzw. Entnehmen des Prüflings wird das Unterteil nach vorn geschoben. Zum Prüfen wir das Unterteil bis zum Anschlag nach hinten geschoben und der Linearspanner betätigt.

Die Verbindungen zur Messtechnik bzw. zum Programmiergerät werden im Unterteil über zwei 25 polige DSUB-Buchsen mit integriertem EMI-Filtern geführt. Mit einem 3 stufigen π-Filter (C-L-C) können Dämpfungen von bis zu 80 dB bei 1 GHz erreicht werden. Zum Anschluss von HF-Generatoren und Analysern stehen seitlich zwei SMA-Durchführungen zur Verfügung.

Abmessungen der Schirmkammern:
B300 x T100 x H80 mm, andere Abmessungen auf Anfrage

2019-04-11T12:28:56+00:00