In-Circuit-Test (ICT)
von Leiterplatten (PCBs) und elektronischen Baugruppen

Was ist ein In-Circuit-Test (ICT)?

Bei einem In-Circuit-Test (ICT) wird eine Leiterplatte oder elektronische Baugruppe (Prüfling) funktionsunabhängig auf Fertigungsfehler geprüft. Dazu werden spezielle Testpunkte des Prüflings mithilfe eines Adapters kontaktiert und elektrische Tests durchgeführt (z. B. Kurzschlussprüfung, Widerstandsmessung, Kapazitätsbestimmung). Durch einen Ist-Soll-Abgleich der Testergebnisse können strukturelle Fehler des Prüflings wie Leiterbahn-, Löt- oder Einpressfehler bereits während der Produktion festgestellt werden.

Für einen In-Circuit-Test (ICT) kontaktierte Leiterplatte (PCB)

Abb.: Leiterplatte (PCB) in einem Prüfadapter für In-Circuit-Tests

Wie wird ein In-Circuit-Test (ICT) durchgeführt?

  1. Damit der Prüfling zeit­effizient und zuverlässig getestet werden kann, werden bereits bei dessen Design spezielle Testpunkte vorgesehen (Prinzip “Design for Test”).
  2. Im ICT-Prüfstand werden diese Punkte mithilfe eines Prüfadapters kontaktiert, der speziell für den Prüfling angefertigt wurde.
  3. Das Prüfsystem führt eine Vielzahl elektrischer Tests durch, wobei diese teilweise auch parallel erfolgen können. Um einzelne Bauelemente innerhalb komplexer Schaltungen zu testen, werden diese elektrisch isoliert (sog. Guarding). Zu den Sub-Tests eines ICT zählen:
    • Kurzschluss- und Unterbrechungstests
    • Polaritätstests
    • Messung von Widerständen, Kapazitäten oder Induktivität
    • Digitale Tests (Stimulierung von Eingangspins, Monitoring der Ausgangspins)
  4. Die Testergebnisse des In-Circuit-Tests werden mit einem vordefinierten Toleranzbereich abgeglichen. Abweichungen deuten auf Fertigungsfehler wie Kurzschlüsse, Leitungsunterbrechung, Löt-, Einpress- oder Bestückungsfehler hin, sodass der Prüfling aussortiert werden muss.

Abgrenzung zu verwandten Tests

Der In-Circuit-Test ist von folgenden, verwandten Tests abzugrenzen:

  • Flying-Probe-Test (FPT): Der FPT ist ebenfalls ein funktionsunabhängiger, rein elektrischer Test und stellt somit eine Alternative zum ICT dar. Der wesentliche Unterschied liegt in der Kontaktierung des Prüflings: Anstelle eines speziell auf den Prüfling zugeschnittenen Adapters, der sehr viele Testpunkte gleichzeitig kontaktiert, wird ein universelles Kontaktierungssystem mit wenigen, frei-beweglichen (“fliegenden”) Testnadeln benutzt. Die Durchführung der einzelnen Tests und Kontaktierung der zugehörigen Testpunkte erfolgt hier sequenziell.
  • Funktionstest (FCT/FKT): Im Gegensatz zu ICT und FPT werden hier komplexere Tests durchgeführt, die die Funktion des Prüflings durch den Abgleich mit einer Spezifikation bewerten. Bspw. werden digitale Signale gesendet oder auf Sensoren eingewirkt und dann die Reaktion des Prüflings analysiert. Der Funktionstest wird meist ergänzend zum ICT oder FPT durchgeführt.
Der Guardian Funktionstester (hier mit einem manuellen Prüfadapter) unterstützt auch In-Circuit-Tests (ICT).

Abb.: Guardian Funktionstester (unterstützt auch ICT) mit angeschlossenem Prüfadapter

Was benötigt man für einen In-Circuit-Test (ICT)?

Für In-Circuit-Tests wird folgendes benötigt:

  • Eine Steuereinheit (sog. In-Circuit-Tester), die die gewünschten elektrischen Tests zuverlässig durchführt und Ergebnisse protokolliert (z. B. der Guardian Funktionstester, der auch für In-Circuit-Tests geeignet ist).
  • Eine Verbindungsmöglichkeit zwischen Steuereinheit und Prüfling (Prüfadapter), die eine zeiteffiziente und ggf. sogar voll-automatische Kontaktierung des Prüflings erlaubt (z. B. Prüfadapter von GTS Test Solutions).
  • Echtzeitfähige Testsoftware für die Programmierung und Automatisierung von Prüfabläufen (z. B. WinGuard)

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