März 2013

Paneltester: Prüfung von Leiterplatten im Nutzen

24. März 2013|

Kleine Leiterplatten werden üblicherweise im Nutzen bestückt. Unser Nutzenprüfer bzw. Paneltester ist eine Kontaktiervorrichtung für Leiterplatten, die im Nutzen gefertigt wurden. Ein Adapterkopf mit Federkontakstiften wird über [...]

Dezember 2012

Umzug nach Berlin-Schöneberg

30. Dezember 2012|

Anfang 2012 haben wir neue Firmenräume bezogen und uns dabei deutlich vergrößert. Die Räume liegen in der ehemaligen Schlüterbrot Backfabrik in Schöneberg, an der Grenze zu Tempelhof, unweit von [...]

Marktein­führung MetaScope 3

24. Dezember 2012|

  Die Entwicklung des neuen Schichtdickenmeßgerätes MetaScope3 wurde abgeschlossen und die erste Geräteserie ausgeliefert. Während der Erprobungsphase wurden neue Erkenntnisse gesammelt, die zur weiteren Optimierung der Hard- [...]

Dezember 2010

Ankündigung MetaScope 3

30. Dezember 2010|

GTS entwickelt zusammen mit seinem Kooperationspartner, der Leoni Draht GmbH, eine neue Version des Schichtdickenmeßgerätes MetaScope. Dieses Gerät wird intern von einem Linux-Rechner mit TFT-Display und Touchscreen [...]

November 2009

PLD-Karte: neue Komponente für Guardian Testsystem

30. November 2009|

Als Erweiterung des Guardian Funktionstestsystems gibt es eine neue Karte mit 16 Power-MOSFET-Schaltern. Die Halbleiterschalter verfügen über umfangreiche Schutzschaltungen und sind zum Schalten von max. 10 A [...]

Unsere zufriedenen Kunden

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